این آنالیز یک تکنیک غیر مخرب قدرتمند برای مشخصه یابی مواد بلورین است. این آنالیز اطلاعاتی درباره ساختار ها، فاز ها، جهتگیری های کریستالی ترجیحی (بافت) و سایر پارامتر های ساختاری مانند اندازه متوسط دانه، بلورینگی، کشش و آسیب های کریستال می دهد. پیک های پراش اشعه x، توسط مداخله مخرب باریکه تک رنگ اشعه x پخش شده در زوایای ویژه از هر دسته از سطوح شبکه در نمونه تولید می شود. شدت پیک ها توسط توزیع اتم ها در شبکه تعیین میشود. در نتیجه، الگوی پراش اشعه x ، اثرانگشت آرایش های اتمی تناوبی در یک ماده مشخص می باشد. جستجو در پایگاه داده استاندارد ICDD الگوی اشعه x، امکان تعیین سریع فاز برای تنوع زیادی از نمونه های بلوری را ایجاد می کند.